晶體測試，愛普生EPSON稱呼為CE測試（Crystal Evaluation)、晶體回路匹配測試，主要評估無源晶體回路特性，幫助客戶可靠的使用晶體器件，評估客戶當前電路板晶體回路特性。常規測試是通過調節負載電容等，來評估當前晶體回路的頻偏、起振能力（-R）、驅動功率。

近期，“EPSON-NSCN晶體電路評估聯合測試中心”正式運營，該中心是南山電子在愛普生的指導下成立的，且通過了愛普生的認證。

至此，南山電子可為您提供愛普生晶體CE測試服務， 客戶提供原理圖和電路板，我們進行CL的調整，評估輸出頻率、驅動功率、起振能力，使其工作在一個穩定的、適合的狀態。我們會在優先不改變客戶回路基礎之上進行調節。

測試地點：EPSON-NSCN晶體電路評估聯合測試中心

地址：江蘇溧陽市昆侖街道金港路110號（江蘇南山電子工業有限公司）

聯系人：全清清（18112328586）     徐文波（13701585577）

如果您需要進行CE測試，請下載晶體CE測試表格，并按照以下的說明進行填寫，然后發給我們。

晶體CE測試表格填寫說明：

1.原理圖

需要表示出晶體回路器件編號。如果是多個測試晶體，可以放在一個原理圖中標出。下圖為示例：

2. 晶體回路的 PCB layout

需要標出晶體和負載電容位置。如果是多個測試晶體，可以放在一個layout中標出；如果有正面和反面測試，請提供正反面的pcb截圖。下圖為示例：

3. 實物位置圖

標出晶體實際位置在電路板上。如果有正反面，請標清楚晶體位置。下圖為示例：

4.供電方式，供電按鍵等示意圖

請引出供電線標注清楚供電電壓。有電源，請提供供電電源；有按鍵開關，請標注按鍵位置。下圖為示例：

注意：板子上的晶振必須是通電后能夠始終持續震蕩的，不可以間歇振蕩，并用標簽在板子上貼上貴司的名稱。

如果您需要進行CE測試，請下載晶體CE測試表格，并按照以上的說明進行填寫，然后發給我們。